常用的测量镀铝膜铝层厚度测方法有三种,分别是光密度法、表面方块电阻测量、第三种方法是目测估计法。我们今天主要介绍的是表面方块电阻测量发。此法测试所用的仪器是电阻法镀铝薄膜厚度测试仪DMT-E。
电阻法镀铝薄膜厚度测试仪DMT-E也叫金属镀层测厚仪,是济南三泉中石实验仪器有限公司生产的,适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。
金属镀层测厚仪符合GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法 标准要求,可检测厚度50-570埃的镀铝层厚度,0.5-5Ω的方块电阻测量范围,±1%的方块电阻测量误差,用于各种镀铝薄膜表面镀铝层的电阻值、均匀度、厚度值的检测。
仪器技术参数;
厚度测量范围:厚度50-570埃
方块电阻测量范围:0.5-5Ω
方块电阻测量误差:±1%
样品尺寸:100×100mm
夹样误差:±0.1mm
测温范围:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (长宽高)
重量:19kg
工作温度:23℃±2℃
相对湿度:80%,无凝露
工作电源:220V 50Hz
济南三泉中石实验仪器有限公司是专业的药包材检测仪器厂家,寻找金属镀层测厚仪、CPP真空镀铝膜测厚仪、满足GB/T 15717金属镀层厚度仪请致电三泉中石销售部。