| 产品详细说明 | |
在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。 产品特点： 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。 规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量zui小示值：≤1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±1nm和±0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05° 成套性：主机、电控系统、计算软件 外形尺寸：680*390*320mm |
天津盛达三合光学仪器有限公司其前身是天津光学仪器厂，公司改制后注册成立的科技型企业，本公司致力于药品（药典）检测仪器、无损检测仪器与实验仪器的生产与销售，所研制的仪器均采用国内及精良技术均符合相关规定，公司始终秉承“诚信、品质、努力、进取”的企业精神“质量打造未来，服务营造满意”的企业宗旨为己任。继承老一辈光学人的优良传统，持之以恒，努力进取。产品将从选材加工与制造每个环节严格把关，以优惠的价格，过硬的质量回报每一位信任我们的企业客户与经销商朋友。
溶出度,澄明度,崩解仪,片剂硬度测试仪,片剂脆碎度测试仪,金属元素检测仪，看谱镜、里氏硬度计、数字超声波测厚仪、数字超声波探伤仪，金属分析仪等多项无损检测产品
椭圆偏振测厚仪 产品信息
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