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硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪

产品报价:¥1

更新时间:2017-09-25访问人数: 8791次

地:山东济南

厂商性质:生产商牌:Labthink兰

公司名称: 济南兰光机电技术有限公司号:

联系人:济南兰光 15764121171

QQ:1739638090

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【硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪】采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

【硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪】采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 

【硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪】技术特征:
1、专业——CHY-CB采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
2、高端——采用了Labthink最新研发的嵌入式计算机系统平台,其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。
3、智能——搭配了Labthink最新的操作软件,具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能;同时,在局域网的环境中,还支持Lystem?实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。

执行标准:
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 

【硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪】技术指标: 
测试范围:0~2mm(标准);0~6mm,12mm(可选) 
分辨率:0.1 μm 
测量速度:10 次/min (可调) 
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) 
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 
电源:AC 220V 50Hz 
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
净重:37 kg 

【硅片测厚仪-铜箔测厚仪-膜厚测试仪】仪器配置:
标准配置:主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块
选购件:测量头、配重砝码、打印机(需兼容标准PCL3打印命令语言)、Lystem?实验室数据共享系统 

了解详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录www.labthink。。com查询。

济南兰光机电技术有限公司

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手机:15764121171

联系人:济南兰光

电话:0531-85068566

传真:0531-85062108

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