BeamMap2-CM-狭缝扫描式光束质量分析仪-北京中瑞先创科技有限公司

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参考价: ￥ 1000

订货量: ≥1 台

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产品型号BeamMap2-CM

品牌其他品牌

厂商性质代理商

所在地北京市

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更新时间：2024-04-30 10:37:27浏览次数：87次

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产地	进口	产品新旧	全新

产品特点：

· 190至1150 nm，Si探测器

· 650至1800 nm，InGaAs 探测器

· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

· 光束直径~100 μm至~3 mm（1.5 mm加长InGaAs）

· 25 μm狭缝对与Si；0.1到2 μm采样间隔

· 50 μm狭缝对，带 InGaAs；0.1到2 μm采样间隔

· 实时±1 mr实时发散和指向测量精度

· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖

· 0.1 μm采样和分辨率

· 线性和对数X-Y轮廓

· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿

· 实时多Z平面扫描狭缝系统

· 实时XYZ轮廓，焦点位置

· 实时M2、发散、准直、对准

产品参数：

产品参数
波长	Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
扫描光束直径	Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
平面间距（CM4 models）	5 mm: -5, 0, +5, +20 mm
平面间距 (CM3 models)	10 mm: -10, 0, +10, 0 mm
束腰直径测量	Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e2 (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams
束腰位置测量	在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm z佳
测量源	连续波；脉冲激光，Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]
分辨率精度	0.1 μm或扫描范围的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm
M2 测量	1 to > 20, ± 5%
发散/准直，指向	1 mrad
zui大功率和辐照度	1 W Total & 0.5 mW/μm2
增益范围	1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
显示图形	X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
更新率	~5 Hz
平均	用户可选择运行平均值（1 到 8 个样本）
zui低电脑要求	Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型号

产品选择：

	Beam’R2	BeamMap2
主要特征	集成X和Y轮廓	实时 XYZθΦ 测量和焦点查找实时指向、发散和M² 测量
接口	USB 2.0 Port-powered
CW or Pulsed?	CW，脉冲zui小 PRR（Si 探测器）≈ [500/（激光直径μm）] kHz
波长	Si:190-1150 nm InGaAs:650-1800 nm Si+InGaAs:190-1800nm Si+InGaAs,extended:190-2500nm
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ	N/A
z佳分辨率	0.1 μm
zui小光束	2 μm (Knife Edge mode)
更新率	5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
M² 测量	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
定位焦点	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
指向/发散	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
开关增益（选项 dB）	32 dB

参数	参数值	BeamMap2	Beam'R2	Comments
波长可选范围（nm）	190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500	Yes	Yes	Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被扫描光束直径	2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)	Yes	Yes	Si + InGaAs, extended
X-Y 轮廓及中心分辨率：	0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围	Yes	Yes
精度:	±<2% ± ≤0.5μm	Yes	Yes
CW or Pulsed	连续/脉冲 zui小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz	Yes	Yes
光束对准准直	± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate	Yes	-
M2 测量	1 to >20, ± 5%	Yes	-	Beam Dependent
实时更新	5 Hz	Yes	Yes	4 Z-plane hyperbolic fit
zui大功率＆辐照度	1 W Total & 0.3 mW/μm2	Yes	Yes	Adjustable 2-12 Hz
增益范围：	32dB	Yes	Yes	Metallic film on Sapphire slits