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TrackScan-P42跟踪式三维扫描系统

阅读:210          发布时间:2022-4-29

TrackScan-P42跟踪式三维扫描系统

 

TrackScan-P42跟踪式三维扫描系统,采用智能光学跟踪测量技术,配备高品质光学设备,无需贴点即可完成超高精度动态三维测量,可应用于质量控制、产品开发、逆向工程等多个方面。

基于不同的扫描场景需求,TrackScan-P42可自由切换多种工作模式。34束交叉蓝色激光超快扫描,高效灵活;7束平行蓝色激光精细扫描,细节;单束蓝色激光扫描,迅速获取深孔及死角位置三维数据。

TrackScan-P42可搭配便携式CMM测量光笔T-Probe,可精准获取工件缝隙、孔位、凹槽等复杂处的高精密点云数据。还可以提供开发接口,与机器人协同工作,实现智能在线批量自动化三维检测。

    

无需贴点

基于反光标记点跟踪技术,TrackScan扫描无需贴点,大大提高了工作效率
  

支持接触式测量

T-Probe灵活性,测量范围广,单点重复性0.030mm,用于接触测量基准孔、隐藏点、特征等关键部位
00001. 
      

双色激光

红光扫描模式高效灵活,蓝光扫描模式0.020mm超高分辨率,轻松获取物体细节

复合定位

支持光学跟踪和标记点跟踪两种模式,根据现场情况灵活切换

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