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详细介绍
德国尼克斯分体涂层测厚仪
型号：QNIX4200P
分体涂层测厚仪: 基体：Fe磁性基体，测量范围：0-3000微米，探头：分体探头
QNIX4200P涂层测厚仪分体设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。QNix4200P为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。
QNIX4200P涂层测厚仪分体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。
QNix4200P为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层。操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。
在传统QNix4200基础上，为了满足客户不同的需要，特推出QNix4200P（分体式）机，探头和主机之间通过一根探头线连接起来，可以满足特定测量环境（比如狭小空间）的需要，测量更方便，使用更人性化，性价比更高
QNIX4200P涂层测厚仪产品优点：
分体化设计，满足不同环境的测量
只需调零，无需校准
体积小巧，操作方便
精度高
价格便宜
德国尼克斯分体涂层测厚仪技术参数
QNIX4200P涂层测厚仪技术参数 | |
磁性基体(Fe模式) | QNix4200P有此功能 |
测量范围 | Fe:0-3000um |
显示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%读数 1000-3000um≤±3%读数 |
小接触面 | 10×10mm |
小曲率半径 | 凸面：3mm 凹面：25mm |
小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
温度补偿范围 | 0-60℃ |
显示 | LCD液晶(带背光) |
探头 | 红宝石固定式 |
电源 | 2×1.5V干电池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
QNix® 4200P SONDEN
Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung | ||
|---|---|---|---|---|---|
QNix® 4200 3 mm | 3000 µm | Fe | +/- (3% +- 2 µm) | ||
QNix® 4200 5 mm | 5000 µm | Fe | 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) | ||
Kleinste Messfläche | Kleinster Krümmungsradius | Kleinste Dicke des Substrats | |||
∅ 25 mm | Konvex: 5 mm | 200 µm | |||
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