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详细介绍
奥本精密KOSAKA LAB SE 300
小坂研究社 SE 300 是一款*新的体积小、携带方便的表面粗糙度测量仪。被广泛应用于工 厂车间，实验室以及计量单位。可对多种零件表面的粗糙度、波纹度以及原始轮廓进行多参 数评定。是一款带专用控制器的高精度、高性能、袖珍型表面粗糙度测量仪。操作简单，显 示一目了然。
特点：
* 配备有符合*新 ISO,DIN,ANSI 和 JIS 标准的 40 多种粗糙度评价参数。
* 宽范围、高分辨率的检测器和直接驱动组件。提供了在同类产品中更优越的高精度测量。
（测量范围/分辨率）
800um/0.0064um
(移动长度/真直度)
25mm/0.5um
* 超低测量力 0.7mN 有效的避免物体表面的划痕。
* 测量数据可通过 RS-232 接口电缆由外部 PC 输入。
* 带有粗糙度校正标准片。
* 配备高可见度的 TFT-LCD 屏幕，彩**标显示，触控式面板，显示更清晰，操作更简易。
* 亦可根据需求任意组合，更方便测量。
标准配置：
l 检出器：PU-A6
l Driver Uint:DR-25X11
l 放大演算装置：AS-300
l 校正标准片：SS-N
l 触针：AA2-60
l Nose Piece ANA
l 记录纸
（可任意选配）
主要技术参数：
1, 测定参数
Ra,Ra,Rt,Rp,Rv,Rsm,Rq,Rsk,Rku,Rmr(c),Rmr,Rδc,R△q,Rc,Ry, Rmax,Rpm,Rk,Rvk,Rpk, Pa, Pa, Pt, Pp, Pv, Psm, Pq, Psk, Pku, Pmr(c), Pmr, Pδc, P△q, Pc, PPI
Wa, Wz, Wt, Wp, Wq, Wmr©, Wsm, WCA,WCM,Sm,S,tp, Htp,△q, △a, HSC,
λa, λq, Mr1, Mr2, A1, A2,Rz,Pz,Wv,W.profile,BAC,ADC,R profile,P profile.
2，适用规范:JIS B0601-2001 / ISO4287-1997(filter Gauss) R,P,W mode
JIS B0601-1994(Filter Gauss) JIS B0601-1982(Filter 2RC) JIS B0601-1987(Filter 2RC)
ASME B46.1 1-1995(Filter Gauss/2RC) DIN4776(Filter 特殊 Gauss)
3，测定范围：Z :800um X:25mm Z 分解能：0.0064um
检出器手动上下范围：33mm
4, 测定倍率：X：100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000,50000,100000,自动.
Y：1,2,5,10,20,50,100,200,500,1000,25mm/λc,50mm/λc
5， Cut-off 值：粗度：λc 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, R+W, λs
波纹度：λc-λf/fh-fl : 0.08~0.8 , 0.25~2.5 , 0.8~8.0mm
6，滤波器：高斯, 2RC, 特殊高斯
7，Levering：全局, 前半部, 后半部, 2 点, 曲面
8，测定长度：评价长度方式：λcX1 ~ X9, 任意(max:25mm) JIS(82)mode R+W :0.08~25mm
其他:0.08~(λc X9)mm , *大 25mm
9，量测速度： 0.2, 0.5 mm/s
10，返回速度： 0.2, 0.5, 1.0 mm/s
11，屏幕：320x240, 彩色液晶, Touch panel
12，列表机：8 dot/mm 热感纸打印方式, 纸宽 58mm
13，测试条件储存：USB 记忆卡(适用 8GB 以下)
14，数据外部输出: RS-232
15，统计处理：平均值, *大值, *小值, 标准偏差(n-1)
16，真直度测定精度：0.5um/25mm
17，检出器：Stylus: R2um 钻石, 测定力 0.75mN, 顶角 60°(可拆换式触针)
18，电源：单相 AC100 ~ 240V, 50/60Hz
19，Driver Unit 尺寸重量: 163 X 66 X 102 mm / 约 0.7kg
20，放大器尺寸: 160 X 235 X 85 mm
进口小坂研究所粗糙度仪便携式粗糙度仪
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