HAST老化试验系统

HAST老化试验系统

AS-HAST-53

试验箱内部容积:W*H*L（mm）355*355*426

系统体积:日本原装HAST试验箱+配线系统

适用于各种封装的二极管、半桥、全桥，集成电路，功率模块等进行HAST试验。

试验标准：JESD22-A110、AEC-Q101、JESD22A-118、JESD22-A102

测试板:每块板上40工位，每个工位串联一个保险丝，8个材料并在一起引出一根线接至检测点，外端8个检测点共用一个电流检测装置。测试能力：电压200V。

通道分区：4个老化试验通道，2个独立直流电源。每个电源对应2个通道一批材料。

满载容量：40颗/每通道×4通道＝160颗。

电源配置：系统配置二台品牌电源，电源规格如下：

试验电源 PS1 PS2

输出电压 0～300V 0～300V

输出电源 0～2.5A 0～2.5A