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三厢式温度冲击箱TS(汇总)

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  • 所在地 苏州市

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更新时间:2023-10-21 17:35:58浏览次数:79

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产品简介

三厢式温度冲击箱TS(汇总) 高低温循环箱(TS)又名高低温冲击试验箱或冷热冲击试验箱,产品主要用于测试产品在高温、常温、低温瞬间转换的环境下的贮存、运输和使用性能。对半导体元器件、机电家电、汽车零部件、通讯行业、新能源行业等的相关产品及材料在快速温度转变的情况下,检验其各项性能指标。设备适用试验类型:高低温冲击试验、高温试验、低温试验、常温试验、极低温试验等......

详细介绍

产品型号ATS-A415ATS-A515ATS-A615ATS-J415ATS-J515ATS-J615ATS-L415ATS-L515ATS-L615ATS-M415ATS-M515ATS-M615
测试区容积(L80L150L252L336L
内箱尺寸
(W×H×D)mm
500X400X400600X500X500700X600X600800X600X700
外箱尺寸
(W×H×D)mm
1465X2080X18151565X1980X19651815X2080X20401920X2080X2440
预热温度60℃~200 (60℃~180 40min
预冷温度 -10-70 (25℃~-70 60min
三箱式试验规格150 (30 min) 常温 -40 (30 min)
150
(30 min) 常温 -55 (30 min)
150
(30 min) 常温 -65 (30 min)
二箱式试验规格150 (30 min) NC -40 (30 min)
150
(30 min) NC -55 (30 min)
温度转换时间10S
冲击恢复时间5
除霜频率300 cycle/
执行标准IEC60068-2-1/ GB/T2423.1-2008:《电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验A:低温》
IEC60068-2-2/ GB/T2423.2-2008:《电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验B:高温》
IEC60068-2-14/ GB/T2423.22-2012:《 电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验N 温度变化》
GB/T10592-2008 《高低温试验箱技术条件》
GJB 150.3-2008 《高温试验》
GJB 150.4-2008 《低温试验》
GJB 150.5-2008 《温度冲击试验》
JESD22-A104IEC60068-3-5


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