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两厢式温度冲击试验箱TC(型号汇总)

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  • 厂商性质 其他
  • 所在地 苏州市

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更新时间:2023-10-21 17:37:10浏览次数:112

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产品简介

两厢式温度冲击试验箱TC(型号汇总) 两厢式温度冲击试验箱TC用于温度骤变循环的试验系统。温度骤变循环试验是在生产阶段激发产品潜在缺陷显现的一种方式。半导体行业用于考核器件在短期内反复承受温度变化(循环流动的空气)的能力及不同膨胀系数材料之间的热匹配性能(可选配测试温度180℃,具体参数欢迎致电我司:) ......

详细介绍

产品型号ATC-F415ATC-F515ATC-F615ATC-G415ATC-G515ATC-G615ATC-H415ATC-H515ATC-H615ATC-K415ATC-K514ATC-K615
提篮容积(L4875108256
内箱尺寸
(W×H×D)mm
400×300×400500×300×500600×300×600800×400×800
外箱尺寸
(W×H×D)mm
1400×2200×18201500×2200×21201620×2220×22201910×2200×2580
温度范围℃ -70+200
高温箱温度范围℃ +20~200
低温箱温度范围℃ -70-10
高温冲击max +150/+180
低温冲击max -40-55-65 -40-55-65 -40-55-65 -40-55-65
温度波动度℃±0.5~1.0
温度均匀度℃±0.5~2.0
吊篮转换时间sec≤10
恢复时间min≤3
冷却方式水冷方式(可选配风冷式)
执行标准IEC60068-2-1/ GB/T2423.1-2008:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

IEC60068-2-2/ GB/T2423.2-2008:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》

IEC60068-2-14/ GB/T2423.22-2012:《 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N: 温度变化》

GB/T10592-2008 《高低温试验箱技术条件》
GJB 150.3-2008 《高温试验》
GJB 150.4-2008 《低温试验》
GJB 150.5-2008 《温度冲击试验》
JESD22-A104,IEC60068-3-5 等


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