CHY-U高精度薄膜测厚仪 返回列表页

CHY-U高精度薄膜测厚仪也就是0.1um测厚仪，是一款可以设定自动进样，进样步距、进样速度等相关参数的一款仪器，适用于2mm范围内各种硬质和软质材料厚度精确测量。

CHY-U高精度薄膜测厚仪  产品应用
薄膜   塑料复合膜   纸张   片材   金属片

  技术特征
★微电脑控制、大液晶显示
★高精度传感器，保证了测试误差
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果
★打印zui大值、zui小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据
★仪器自动保存zui多100组测试结果，随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★专业电脑测试软件，直观表示测试差异
★系统自动进样，进样步距、进样速度等相关参数均可由用户自行设定

高精度薄膜测厚仪  测试原理
机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

高精度薄膜测厚仪  技术参数
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率：0.1um
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
机器尺寸：450mm×340mm×390mm (长宽高)
重量：23Kg

高精度薄膜测厚仪   标    准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

高精度薄膜测厚仪  配    置
标准配置：主机、标准量块（500um、1000um）、微型打印机、自动进样器测试软件、通信电缆、测量头、
选用配置：配重砝码

更多信息请致电济南三泉中石实验仪器有限公司 业务部

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