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当前位置：济南三泉中石实验仪器有限公司>>塑料包装检测仪器>>密封性测试仪>> CHY-U薄膜膜厚测试仪
| 测量范围 | 0-2mm | 测量精度 | 0.1um |
|---|---|---|---|
| 产地 | 国产 | 产品新旧 | 全新 |
| 显示方式 | 数显 | 自动化程度 | 全自动 |
一、结构组成
CHY-U薄膜膜厚测试仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成，专业名称为测厚仪。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。
2、 功能原理
CHY-U薄膜膜厚测量仪采用目前世界测量领域很先进的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度*性；且操作调试极其方便，几近于自动化操作，大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响；并具有手动、自动两种测量模式，对于手动模式测量，可打印输出测量结果，对于自动模式测量，可按照预先设置好的次数自动测试，并对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。
3、薄膜膜厚测试仪主要参数
仪器型号：CHY-U
其他名称：薄膜膜厚测量仪、薄膜测厚仪、薄膜厚度仪等
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度：10 次/分（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg
4、执行标准
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
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