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chiller unit流体控温装置常见的故障解析 详细摘要: 元器件高低温测试装置在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试...
产品型号:TES-8525W 所在地:无锡市 更新时间:2021-01-15 参考价: 面议 在线留言 -
chiller unit半导体水冷机选择要点 详细摘要: 元器件高低温测试装置在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试...
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