一、使用安全信息：
1.请勿将试品电源接入设备电源中，否则会增加设备电源负荷。除非设备留有试品电源接口。
2.严禁试验易燃、易爆、高腐蚀、强辐射物品。
3.设备通电状态下或运行过程中请勿搬运、检修。
1、高温烫伤，冷热冲击试验箱在做高温试验时箱内温度很高。试验过程中或测试刚结束时，如需打开箱，开门要特别小心，切记，顺着们开启的方向行走，以免烫伤。
2、低温冻伤，冷热冲击试验箱在做低温试验时箱内温度很低。试验过程中或试验刚结束时，如需打开箱门要特别小心，以免冻伤。
3、高温烫伤，冷热冲击试验箱在做高温试验时箱内温度很高。试验过程中或试验刚结束时，如需打开箱门要特别小心，以免烫伤。
4、触电，虽然设备具有健全的防触电措施，但是仍然需要注意，尤其是电器控制系统，工作情况下，切勿触摸电器部分。
二、三箱式冷热循环冲击试验机用途
三箱式冷热冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业，可作为其产品改进的依据或参考。
三、三箱式冷热循环冲击试验机执行与满足标准
GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法
GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法
GJB360.7-87 温度冲击试验
SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机
四、产品性能
1. 高低温冲击试验箱控制器：*LCD液晶显示触摸屏控制器；
2.工作槽温度范围：（A：-45），（B：-55），（D：-65）~150℃；
3.温度恢复时间：5分钟以内；
4.高度槽温度：60℃ - 200℃；
5. 高低温冲击试验箱低温槽温度：（A：-65），（B：-70），（D：-80）~-10℃；
6. 高低温冲击试验箱高低温曝露时间：30分钟
7.内箱材质：雾面不锈钢SUS304；
8.外箱材质：雾面线条处理不锈钢SUS304；
9.压缩机：法国*全密式压缩机
10.电源：AC380V±10%50HZ 三相四线+保护地线。
五、技术参数：（W×H×D mm）
JR-WD-50 内箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
JR-WD-80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
JR-WD-100 内箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
JR-WD-150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
JR-WD-252 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
JR-WD-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
六、特点
冷热冲击试验箱采用整体式组合结构形式，即冷热冲击试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜(系统)所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和维修，电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
1、钣金结构
冷热冲击试验箱设备结构采用CAD三维立体建模技术设计，电脑模拟拼装后再整体拆分钣金结构图纸分项加工，达到*精密的外型结构工艺设计要求。
外箱：采用符合国标GB/T708-2006，厚度1.5mm冷轧板，双面防锈静电树脂高温喷塑。
内胆：全部采用厚度为1.2mm的SUS#304耐热耐寒不锈钢密封焊接。
2、制冷系统
制冷系统采用*的制冷、恒温恒湿节能控制技术。比传统设备节能30%以上、噪音控~Ud15%以上。
压缩机：采用欧美*品牌压缩机。
冷冻部件：采用进口零部件。
3、控制系统
控制器：采用全新进口品牌工业微电脑控制器。抗积分饱和PID，BTC平衡调温调湿控制方式。
电子部件：采用进口电子控制器件。
