为了解决废弃电子产品中的有毒金属污染问题，危害性物质限（RoHS）指令规定了镉、六价铬、汞和铅在每种电子设备中允许存在的高含量。为了达到RoHS 指令要求，简单也的方法是使用微波消解制样，并使用全谱直读等离子体发射光谱仪（ICP-OES）进行分析。尽管ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态，但是它能够测量铬的总含量，以确定其是否超过规定水平。如果超过限值，则可以进一步制样，并采用其他技术手段分析样品。
本文将重点关注如何使用ICP-OES 分析电子产品中的多种样品类型，以确保符合RoHS 指令要求，以及制样注意事项。
鉴于RoHS 指令涵盖的样品类型繁多，一一评估是不可能完成的。因此，我们选取具有代表性的若干种样品类型进行分析：塑料、导线绝缘层、焊料、电线和一块电路板，除焊料是全新的以外，所有样品均取自废弃的电子产品。所有样品均置于PerkinElmer Titan MPS™ 微波制样系统中消解。所有分析工作都是使用PerkinElmer Avio™ 200 ICP发射光谱仪（轴向模式）完成的。
由于RoHS 指令规定的浓度值对于Avio 200 的检测能力来讲可以轻松实现，因此可以使用更短的自动积分时间，在不影响准确度的情况下提高分析速度和样品处理量。Avio *的Flat Plate™ 平板等离子体技术确保所有分析都是在仅需消耗8 L/min 氩气的条件下进行的。再加上样品分析效率的提高，能够大限度降低氩用量。
为了证明校准曲线的准确度，在读取完校准曲线后，直接对含量为RoHS 水平十分之一（溶液中）的标样进行分析。表1 显示了回收率，说明在低含量和高含量下，都能够获得准确结果。

回收率证明在制样程序中，待测元素并未出现明显的流失和污染。