UV-2000f抗紫外透过性能测试仪

UV-2000f抗紫外透过性能测试仪做了很多改进，包括新的二极管阵列光谱仪、闪烁氙灯、光学耦合光纤、光学头定位结构、样品定位平台和一套新的、稳定的软件开发平台，从而建立了新的业界标准。

新的二极管阵列光谱仪性能稳定，特殊定制的凹面衍射光学系统用于保证测量的完整性和良好的可重复性。采用新颖的全息衍射光栅，摒弃传统的复制光栅方式，保证了波长范围内较高效率，较长的像素阵列保证了更好的像素波长分辨率。积分球内的照度经过滤光片从而限制了样品总的曝光时间，改善了杂散光性能。

快速、高精度、高效率、5秒快速测量

UV-2000F抗紫外透过性能测试仪能够快速测量250 - 450 nm紫外线波段内纺织品样品的漫透射率。蓝菲光学的Spectralon®积分球采用了重新优化的闪烁氙灯作为光源以提供良好的样品漫反射照明效果，从而减少积分时间，能在5秒内提供可靠、可複验的测量结果。新型二极管阵列光谱仪配合新型*的光纤、光学性能在在系统级别进行优化，从而降低了杂散光，提高波长稳定性和闪烁的重复性。

操作简便

可以通过点击按钮生成测试报告，报告包括如日期，时间，操作人姓名，样品信息和测试参数等必要信息。可以在个人电脑上查阅这些信息，还可以打印或者输出为文本格式进行进一步的数据分析处理。

强大、易用的应用软件

UV-2000F软件对纺织物样品的UPF的可以采用不同的测量方法，包括AS/NZ 4399:19961，EN13758-1:2001AATCC TM183-2000，GB/T18830以及用户自定义方法。兼容WindowsXP和Windows7操作系统，软件简单易用，可实现对不同种类纺织物各种数据的获取、归档、检索和输出。

UV-2000F的应用软件整合了现场校验和重新校验的校验程序，从而保证了仪器的性能。校准片中包括一个波长校准片，可以捕捉6个光谱波段，每个紫外透过率分析仪都包含一套该标准。

UV-2000f抗紫外透过性能测试仪性能特点

● 对于构造粗糙的样品可稳定测量

● 简单的仪器验证程序，确保精确、重复的测量

● 一触式的样品分析设计，5秒内获得分析结果

● 可以根据系统自带的方法如AS/NZ 4399:19961,EN 13758-1:2001 AATCC TM 183-2000,GB/T18830以及客户定义的方法自动计算UPF值（UVB 280 - 315nm，UVA 315 - 400nm）

● 漫反射Spectralon积分球能提供优信躁比

● 便利小巧的尺寸，节省实验室空间

符合标准

GB/T18830、AS/NZS 4399:1996、EN 13758-1:2002、AATCC TM 183-2000、日本服装协会标准等。

技术参数

系统属性和性能

波长范围：250 to 450nm

波长精度：±1nm

宽带（FWHM）：<4nm

波长间隔（数据间隔）：1nm

光学构造

积分球材质：Spectralon

积分球开口尺寸：<5%

样品曝光面积：0.79cm2

光源：闪烁式氙灯

没测量周期的紫外线量：<0.2J/cm2

样品座：手动平台

测量范围

透过率：0-*

吸收值：0-2.7AU

扫描时间：<5s

计算机接口：USB

供电要求：220-240V，60/50Hz