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详细介绍
Sphere-3000 光学元件反射率测量仪
Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
Sphere3000光学元件反射率测量仪-特点：
Ø 显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）
Ø CIE颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等
Ø 检测速度快 高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定
Ø 消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
Sphere3000光学元件反射率测量仪-技术参数
型号 | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（III型） |
检测范围 | 380~800nm | 360~1100nm |
波长分辨率 | 1nm | 1nm |
相对检测误差 | ﹤1% | ﹤0.5% |
测定方法 | 与标准物比较测定 | |
被测物再现性 | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1100nm) |
单次测量时间 | ﹤1s | |
精度 | 0.3nm | |
被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | |
被测物尺寸 | 直径> 厚度> 厚度> | |
被测物 测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) | |
设备重量 | 约 | |
设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
使用环境 | 水平且无振动的场所 温度：23± 湿度：60％以下、无结露； | |
操作系统 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | |
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定 | |
尺寸 | 480*400* | |
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