详细介绍
扫描电子显微镜
扫描电镜
zui通用的高性能SEM
Apreo扫描电子显微镜(SEM)的革命性复合透镜设计结合了静电和磁浸技术,可提供qian所未有的分辨率和信号选择。这使得Apreo SEM成为研究纳米颗粒,催化剂,粉末和纳米器件的shou选平台,而不会影响磁性样品的性能。
Apreo SEM得益于*的镜头后向散射检测功能,即使在倾斜,短工作距离或敏感样品上,也可提供出色的材料对比度。新型复合透镜进一步通过能量过滤提高了对比度,并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。现在,可选的低真空模式具有500 Pa的zui大腔室压力,即使是zui苛刻的绝缘子也可以成像。
通过所有这些选项,包括复合式zui终镜头,*的检测和灵活的样品处理,Apreo SEM的性能和多功能性将满足您未来很多年的研究挑战。
材料科学的Apreo SEM
新型Apreo扫描电子显微镜(SEM)可为包括纳米粒子,金属,复合材料和涂层在内的多种材料提供性能,并结合了创新功能,以实现更好的分辨率,对比度和易用性。
- *的复合zui终透镜在1 kV时可提供1.0 nm的出色分辨率,无需光束减速-在任何样品上,即使它是倾斜或地形。
- zui有用的反向散射检测-即使在低电压和电子束电流,任何倾斜角度,电子束敏感样品和电视速率成像下,材料对比度始终可用。
- 的检测器灵活性-通过组合来自各个检测器段的信息,获得zui重要的对比度或信号强度。