1NM 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪

TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。。

以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组件共同组成的SMPS扫描电迁移粒径谱仪。

特性和优势

高分辨率粒径分布

+ 64通道/10倍粒径

+ 1到50nm之间多于109通道

给您灵活度的组件设计

1nm到50nm的极宽粒径范围

+和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um

三个数量级的粒径

化设计，将散逸损失降到，系统高度整合

通过气溶胶仪器管理（AIM）软件进行系统操作

离散颗粒物测量：多模态样品测量效果

应用

基础气溶胶研究

颗粒成核及生长研究

大气及气候研究

燃烧及发动机排放研究

过滤器及空气净化器测试

吸入或暴露舱研究

健康影响因素研究