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详细介绍
为您带来的优势
共聚焦和干涉测量
共聚焦和干涉测量的双核心技术具备高速测量和高分辨率的特点，分辨率为0.1nm-10nm。微观显示共聚焦技术
微观显示共聚焦技术使得同一视野的共聚焦和明场图像可同时显示。
干涉测量PSI和VSI
干涉测量PSI和VSI提供平滑表面的高精确度测量，具有超微观的纳米级分辨率。
DCM 3D系统采用双核心技术，可用于微观和超微观表面结构的快速、非侵入性测量。
为您带来的优势
共聚焦和干涉测量
共聚焦和干涉测量的双核心技术具备高速测量和高分辨率的特点，分辨率为0.1nm-10nm。微观显示共聚焦技术
微观显示共聚焦技术使得同一视野的共聚焦和明场图像可同时显示。
干涉测量PSI和VSI
干涉测量PSI和VSI提供平滑表面的高精确度测量，具有超微观的纳米级分辨率。
DCM 3D系统采用双核心技术，可用于微观和超微观表面结构的快速、非侵入性测量。
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