美国泰克TEK371A晶体管测试仪

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无线电

美国泰克TEK371A晶体管测试仪
主要参数：·半导体器件高精度测量
上限达2000V或电流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的测量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的测量分辨率（370A）

·波形对比

·包络显示

·波形平均

·点光标（370A）

·Kelvin传感测量

·全程控

·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用

应用

手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量

来料检查

生产测试

过程监视及质量控制

数据报告的生成

元件配对

失效分析

工程测试

交互式程控

所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包

括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。

测试夹具

测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通

过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。

370A程控特性曲线图示仪

370A是*的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅

、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。

在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作

在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。

370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。

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