冷热冲击试验观察箱均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。

冷热冲击试验观察箱标准型型号（另：可根据客户要求定做）：

AP-CJ--80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-CJ--150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-CJ--250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-CJ-S-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

测控系统：

1.控制器：*口7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块

2.运行方式：程序方式

﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度

高温恒温区预热温度

低温恒温区预热温度

低温恒温区除霜温度

﹙2﹚指示精度 0.1℃

﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN

﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制

3.设定方式：中文菜单，触摸屏方式输入。

4.程序容量：100组程式，每个程序*大3步；每个程序可设1000次循环，*大循环设定9999cycles;

5.设定范围：预热预冷箱区

高温室预热温度上限：+200℃；

低温室预冷温度下限：-75℃；

试验室﹙试样区﹚

温度冲击上限：+150℃；

温度冲击下限：-65℃

6.显示分辨率：温度：0.1℃ 时间：0.1min;

7.通讯功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和远程通讯功能；

8.控制方式：抗积分饱和PID，模糊算法；BTC平衡调温控制方式；

9.附属功能：故障报警及原因、处理提示功能、超温保护、故障记录、上下限温度保护、传感器上下风选择、断电保护、试验暂停、报警输出、时间信号输出，试验结束输出、温度到达输出、定时启动及自动停止功能、自诊断功能。