可程序冷热冲击试验箱适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。

可程序冷热冲击试验箱技术参数：

型号：AP-CJ

内箱尺寸：30*30*30cm（宽高深）

外箱尺寸：120*180*110cm（宽高深）

温度范围：A:-40℃～150℃；B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃

温度恢复时间：≤5分钟

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：±2℃  

温度控制器：日本*口OYO可编程液晶触摸屏温度控制器

温度传感器：Pt100铂电阻

制冷系统：法国泰康全封闭压缩机

特点：

1、分高温区、低温区两部分，测试样品放置吊篮中，采用*特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试。

2、可由测试孔外加负载配线测试部件；

3、大型彩色LCD触控微电脑控制系统，中英文切换，操作简单易懂，运行状态一目了然；

4、全封闭*口法国泰康牌压缩机+冷媒

5、具有rs-232c或rs-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 还可插入USB储存数据；

6、 可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；

7、三层钢化玻璃，低温不结冰，可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜；