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X-射线荧光分析显微镜 我有新说法
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X-射线荧光分析显微镜是一款显微镜,扫描范围为512×512μm~100×100μm。

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基本信息

  • 中文名:X-射线荧光分析显微镜

  • 元素分析范围:Na11~U92

  • 仪器灵敏度:几十ppm

  • 扫描范围:512×512μm~100×100μm 

主要用途: 1.固体、液体样品的成分、结构及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做几种图像:①元素分布图;②透射X光像;③光学显微镜像 4.相分析(相结构)地质考古、宝石鉴定、电子元器件、集成电路、刑事侦察、物证鉴定、金属、非金属材料成份分析及元素分布、环境监测、生物医学

仪器类别: 03040108 /仪器仪表 /光学仪器 /显微镜 /荧光显微镜

指标信息:X射线束斑直径:10μm或100μm 最大样品尺寸:100×100×30mm 扫描范围:512×512μm~100×100μm 射线对样品:无损伤、无污染

仪器特点:

1.大气状态下分析,不需对样品进行处理

2.不破坏、不污染分析贵重样品

3.同时分析样品的成份和结构

4.可对样品进行点分析和从微观级到宏观级的面分析

5.能够对Na~U的元素同时进行分析,并可同时记录31种元素的测定结果

参考资料

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