Zeta-APS型高浓度胶体颗粒度分析仪 | ||||||||||||||||||
产地:美国 仪器简介: Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,可以测试:粒径、Zeta电位、滴定、电导等。 此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。 结构设计紧揍,外置的Zeta电位滴定装置(可选配)自动摘定装置可自动、快速地判断等电点,可快速得到*分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用,通用性强,非常适用于科研及工厂的优化控制。 典型应用: 综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。 主要特点: 1)能分析多种分散物的混合体; 2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点; 3)可适用于高导电(highly conducting)体系; 4)可排除杂质及对样品污染的干扰; 5)可精确测量无水体系; 6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量; 7)样品的zui高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量; 8)具有自动电位滴定功能; 优于光学方法的技术优势: 1)被测样品无需稀释; 2)排除杂质及对样品污染的干扰; 3)不需定标; 4)能分析多种分散物的混合体; 5)高精度; 6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um 优于electroactics方法的技术优势: 1)无需定标; 2)能测更宽的粒径范围; 3)无需依赖Double Layer模式 4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲; 5)零表面电荷条件下也可测量粒径; 6)可适用于无水体系; 7)可适用于高导电(highly conducting)体系; 优于微电泳方法的技术优势: 1)无需稀释,固合量高达60%; 2)可排除杂质及对样品污染的干扰; 3)高精度(±0.1mv); 4)低表面电荷(可低至0. 1mv); 5)electrosmotic flow不影响测量; 6)对流(convection)不影响测量; 7)可精确测量无水体系; 技术参数: 1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um; 2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减; 3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv); 4)零表面电荷条件下也可测量粒径; 5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数); 6)样品体积:30-230ml; 7)PH范围:0~14; 8)电导率范围:0~10 s/m
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仪器简介:
Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,可以测试:粒径、Zeta电位、滴定、电导等。
此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。
Zeta-APS型高浓度胶体颗粒度分析仪 产品信息
关键词:粒度分析仪