UV765PC紫外可见分光光度计商品简述：
可以满足日常分析到科学研究等广泛的应用需求。仪器采用合理的光路系统、低噪声的电路设计，具有出色的可靠性和稳定性。
主要特点：
● 比例双光束，保证好的稳定性。
● *低的杂散光，*异的波长度。
● 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。
● 长寿命石英涂膜光学部件。
● 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。
● 显示和储存各种数据和图谱，支持打印机。
● 自动校正功能，确保每次测量数据准确。
● 自动寻找灯源位置，灯室，灯源更换简单方便。
● 大样品室，自动8联样品架。
● 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。
● *低的杂散光，*异的波长度。
● 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。
● 长寿命石英涂膜光学部件。
● 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。
● 显示和储存各种数据和图谱，支持打印机。
● 自动校正功能，确保每次测量数据准确。
● 自动寻找灯源位置，灯室，灯源更换简单方便。
● 大样品室，自动8联样品架。
● 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。
UV765PC紫外可见分光光度计技术指标;
● 波长范围：190nm～1100nm
● 波长大允许误差：±0.5nm
● 波长重复性：≤0.2nm
● 光谱带宽：2nm
● 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定）
● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A)
● 透射比大允许误差：±0.3%（τ）
● 漂移：≤0.001A/h
● 透射比重复性：0.15%（T）
● 基线平直度：±0.002A
● 噪声：噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T)
● 扫描速度；快、中、慢
● 波长范围：190nm～1100nm
● 波长大允许误差：±0.5nm
● 波长重复性：≤0.2nm
● 光谱带宽：2nm
● 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定）
● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A)
● 透射比大允许误差：±0.3%（τ）
● 漂移：≤0.001A/h
● 透射比重复性：0.15%（T）
● 基线平直度：±0.002A
● 噪声：噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T)
● 扫描速度；快、中、慢
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