LAP-D2000属于干法全自动激光粒度仪，被广泛应用到粉体行业，我公司针对不同行业设计了不同模板，客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。
智能型干粉激光粒度分析仪控制系统原理图
LAP-D2000激光粒度分析仪主要性能特点：
的光路设计：LAP-D2000采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在较短的焦距获得较大量程，有效提高仪器的分辨能力；*的小探头排布，让D2000拥有了*的小颗粒测试能力。优越的自动对中系统及电脑操作系统彰显出LAP-D2000人性化设计。
高稳定光路优化：*的设计让LAP-D2000拥有了的高稳定光路，它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器，优良的配置使LAP-D2000拥有了*的稳定性；主要光路采取了全封闭设计，保证了仪器在复杂环境长时间测试。
*的干法分散系统：D2000分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计，使LAP-D2000对干粉的分散更加均匀，*的负压保证了进料的连续性及均匀性，有效避免测试过程中干粉的相互粘连。
探测器：LAP-D2000探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计，保证了仪器全量程内无缝探测，使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统，可实现仪器的一键自动对中，彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害，有效延长了仪器的使用寿命。
防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。*的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。
光路自动校对：光路微变，仪器可以自行对光路进行调节，避免手动调节时损坏探测器。
管道无残留：测试完成后管道内无残留样品，不会对下次测试造成干扰。
计算机控制喂料：测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。
软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。
对于制药行业客户，可以提供3Q认证。
测试界面
光路自动对能图
主要技术参数：
| 规格型号 | LAP-D2000 |
| 执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 |
| 测试范围 | 0.1μm -2000μm |
| 探测器通道数 | 109 |
| 准确性误差 | <1%（国家标准样品D50值） |
| 重复性误差 | <1%（国家标准样品D50值） |
| 喂料方式 | 机械无级调速振动喂料，软件控制 |
| 无油*空压机 | 具有粉尘过滤功能，保证测试准确性 |
| 冷干机 | 冷冻式干燥机可过滤空气中的水分，保证分散效果 |
| 误操作保护 | 仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应 |
| 激光器参数 | 进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW |
| 镜头 | 进口佳能镜头 |
| 分散方法 | 高压空气分散 |
| 智能操作模式 | 软件智能全自动控制操作 |
| 光路对中 | 光路自动校对 |
| 测试速度 | <1min/次（不含样品分散时间） |
| 体积 | 980mm*410mm*450mm |
| 重量 | 35Kg |
| 软件功能 | |
| 测试报告 | 测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果 |
| 自行DIY | 用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据 |
| 统计方式 | 体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 |
| 统计比较 | 可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义 |
| 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求 |
| 显示模板 | 粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等 |
| 智能操作模式 | 真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。 |
| 多语言支持 | 中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。 |
测试报告：
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