JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F 实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。

产品规格：

产品特点：

· 实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

· JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。

· STEM-HAADF像的保证分辨率达到了的58pm

· 采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。

· ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件

· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

· 强大的冷场发射电子枪HyperCF300

· 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

· 两种物镜极靴

· 为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。

· 丰富的选购件

· 能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

· 大范围的加速电压设置

· 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。

· 新开发的真空系统

· 新的排气系统达到了*的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，限度地减轻了对样品的污染和损伤。

· 高稳定的镜筒和样品台

· 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗*力提高到新高度。