高效、易操作
CombiScope配备了全电动悬臂架和光电二极管定位，具有自动一键点式激光-针尖准直功能。这大大简化了整个系统调整过程，并提供了的系统再现性。此外，在安装相同或甚至不同类型的新悬臂梁后，样品表面上的相同感兴趣区域（在几微米的重复性范围内）可以很容易地找回并扫描，而无需任何额外的操作。
扫描器
CombiScope配备精密运动控制PI公司提供的闭环、高动态、3轴压电纳米定位扫描器。扫描器是该系统的核心，使其能够实现高线性、高稳固性和高精准性运动。
1300 nm AFM激光器
1300nm原子力显微镜反馈激光和常用的紫外、可见光和近红外拉曼激光（364-830 nm）毫无相互干扰，并且消除了对可见光敏感生物和半导体样品的任何干扰。
耦合光学显微镜
倒置光学显微镜：尼康Eclipse Ti-U、Olympus IX-71等（具有相位反差和DIC）
平场消色差物镜：顶部100x，NA=0.7；侧向10x，NA0.28
耦合透射和反射（顶部）光路配置，利用光学、拉曼和扫描探针显微镜技术研究透明和非透明样品
在液体中工作的解决方案
标准的CombiScope样品架可容纳所有常见的样品衬底，包括载玻片、盖玻片和35 mm培养皿。特殊设计的液体池具有加热和液体灌注功能，可在生理环境和高达60°C的温度维系下生物样品。
一台仪器即可实现所有操作模式
CombiScope平台在一台仪器中配备了所有现代AFM操作模式，无需任何额外硬件和成本。它包括诸如力模式、纳米蚀刻、压电力显微镜（PFM）、开尔文探针显微镜和调频AFM（内置PLL的动态力显微镜）等特殊应用模式。此外，也可以选配扫描隧道显微镜（STM）头和导电AFM在100 fA–10µA范围内工作（1 nA、100 nA和10µA三档量程自由切换，1nA量程的电流噪声为60 fA）和近场光学显微镜（SNOM）。CombiScope特殊多功能性平台已经成为纳米科学的解决方案。
测量模式
空气中接触AFM；
液体接触AFM（可选）；
空气中的半接触原子力显微镜；
液体半接触原子力显微镜（可选）；
真正的非接触式原子力显微镜；
动态力显微镜（DFM、FM-AFM）；
耗散力显微镜；
Top模式；
相位成像；
侧向力显微镜（LFM）；
力调制；
导电原子力显微镜（可选）；
I-Top模式（可选）；
磁力显微镜（MFM）；
开尔文探针（表面电位显微镜）；
单通开尔文探头；
电容显微镜（SCM）
电力显微镜（EFM）；
单通道MFM/EFM（“平面扫描”）；
力曲线测量；
压电响应力显微镜（PFM）；
PFM Top模式；
纳米光刻技术；
纳米操纵；
STM（可选）；
光电流成像模式（可选）；
伏安特性测量（可选）；
带音叉的剪切力显微镜（ShFM）；
音叉法向力显微镜。
液体测量模式（测试头HE001）
接触模式AFM；
半接触原子力显微镜；
Top Mode；
相位成像；
侧向力显微镜；
力调制；
力曲线测量；
纳米蚀刻；
纳米操纵。
SmartSPM扫描器和基座
闭环平板扫描器： 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10 %)
扫描器非线性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪声水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz带宽，电容传感器打开）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz带宽，电容传感器关闭）；Z＜0.1 nm RMS （1000 Hz带宽，电容传感器开）
高频扫描器：XY≥7 kHz; Z≥15 kHz
基座
- 手动样品定位范围：25 mm×25 mm
- 电动SPM测量头定位范围：1.6 mm×1.6 mm
- 电动趋近量程：1.3 mm
- 标准载玻片和盖玻片样品架
- 样品尺寸（可选）：≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm（中心25 mm×25 mm范围内可以任意区域成像）
AFM测试头HE001
激光波长：1300nm
激光对生物样品无影响；
激光对光电测量无影响
系统噪声：< 0.03 nm
全电动：4步进电机用于悬臂和光电二极管自动对准；
探针通道：为外部操作和探针提供自由通道
顶部和侧向同时光路通道：带平消色差物镜，可同时10x，NA0.28顶部物镜和20x，NA0.42侧向物镜
液体电池（可选）
手动样品定位：15x15mm，定位分辨率1um；
培养皿支架：直径35mm；
液体体积：1.5-2.5ml；
液体交换：双管道
导电力AFM（选购）
电流范围：100fA~10µA;
三档量程自动切换（1nA, 100nA和10µA）
电压范围：-10~ +7V
电流噪声：≤60fA（1nA量程）
兼容倒置光学显微镜：
红外激光对光学成像无干扰；
可兼容以下显微镜：
尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000；奥林巴斯IX-71，IX-81；
相位反差、DIC和荧光技术（需本征光学聚光器）；
可升级到TRIOS平台，用于光谱和TERS操作。
光学显微镜
数值孔径：NA 0.1；
放大倍率：从85x到1050x（19英寸监视器，1/3英寸CCD）；
水平视野：4.5～0.37mm；
手动变焦：12.5倍；
粗/精对焦单元：
兼容平显色差物镜：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取决于AFM测试头）
软件系统
自动准直系统；
自动配置标准测量技术；
自动调节悬臂梁共振频率；
能够处理力曲线；
宏语言Lua，用于编程用户函数、脚本和小构件；
能用DSP宏语言对控制器进行实时编程，无需重新加载控制软件；
在坐标空间处理图像的能力，包括制作横截面、拟合和高达8级的多项式曲面减法；
FFT处理，具有在频率空间处理图像的能力，包括滤波和分析；
纳米蚀刻和纳米操纵；
高达5000x5000像素图像的处理能力
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