日本HORIBA XploRA Nano 纳米拉曼光谱仪

多样品分析平台

宏观、微观和纳米尺度的测量可以在同一个平台上进行

简单易用

全自动操作，在几分钟内即可开始测量，而不是几小时！

真正的共聚焦

高空间分辨率，自动样品台，全显微镜可视化。

高收集效率

顶部和侧向拉曼光谱检测都可以获得高分辨和高通量测量同区域和针尖增强光谱测量（TERS和TEPL)

高光谱分辨率

高光谱分辨能力，多光栅自动切换，宽光谱范围的拉曼和光致发光分析。

高空间分辨率

针尖增强的纳米级光谱分辨率（优于10nm）

丰富的光学光谱（拉曼和光致发光）

多技术/多环境

结合TERS/TEPL化学成像的多模式SPM技术包括AFM、导电和电学模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和电化学环境。一个工作站和强大的软件即可对两台仪器进行控制，SPM和光谱仪可以同时或独立操作。

坚固性/稳定性

高共振频率AFM扫描器，远离噪音干扰！高性能表现，无需主动隔振系统。

SmartSPM扫描器和基座

闭环平板扫描器： 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

扫描器非线性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪声水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz带宽，电容传感器打开）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz带宽，电容传感器关闭）；Z<0.04 nm RMS （1000 Hz带宽，电容传感器开）

高频扫描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自动趋近：XYZ数字闭环控制，Z向马达趋近距离18mm

样品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm

样品定位：自动样品台范围：5 mm x 5 mm

定位精度：1µm

AFM测试头

激光波长：1300nm（光谱检测器无干扰）

激光准直：全自动悬臂—光电二极管激光准直

探针通道：为外部操作和探针提供自由通道

SPM测量模式

标准模式：接触模式、半接触模式、非接触模式、相位成像模式、侧向力模式（LFM）、力调制模式、磁力显微镜模式（MFM）、开尔文探针模式（表面电势，SKM，KPFM）、扫描电容模式、静电力显微镜模式（EFM）、力曲线测量、压电响应模式（PFM）、纳米蚀刻、纳米操纵

升级模式：溶液环境接触模式、溶液环境半接触模式、导电力显微镜模式、STM模式、光电流成像模式、伏安特性曲线测量等

光谱模式

共聚焦拉曼、荧光和光致发光光谱和成像

针尖增强拉曼光谱（AFM，STM等）

针尖增强荧光

近场光学显微镜和光谱(NSOM/SNOM)

导电力AFM（选购）

电流范围：100fA~10µA;三档量程自动切换（1 nA, 100 nA 和 10 µA）

光路耦合通道

顶部和侧向能够同时使用消色差物镜：从顶部或侧向可用100X，NA0.7物镜；可同时使用20倍和100倍

长期光谱激光稳定对准的闭环压电物镜扫描器：20µm x 20µm x 15µm；

分辨率：1nm

光谱仪

全自动紧凑型XploRA Plus显微光谱仪，可独立使用显微拉曼光谱仪

波长范围：75cm-1至4000 cm-1

光栅：四光栅自动切换(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)

自动化：全自动，软件控制操作

检测器

全光谱范围CCD和EMCCD检测器。

光源

典型波长：532nm、638nm、785nm；其它波长可根据需求提供

自动化：全自动，软件控制操作

软件

集成软件包，包括全功能SPM、光谱仪和数据采集控制、光谱和SPM数据分析和处理套件，包括光谱拟合、去卷积和滤波，可选模块包括单变量和多变量分析套件（PCA、MCR、HCA、DCA），颗粒检测和光谱搜索功能。