WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成（薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开），两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块，每组线对卡里面的金属片组间隔为2.5mm。
WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡符合《GB/T 35391-2017无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测用空间分辨力测试卡》要求
线对卡,按分辨力高低分为三种:
1)Ⅲ级线对卡
2)Ⅱ级线对卡
3)工级线对卡;
线对卡是用来测试工业CT系统空间分辨力的一种标准试件,它是由钢、硅或其他由供需双方商定的材料制作的薄片构成的线对组,每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成(薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开),两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块,其三维结构如图1、正视图如图2所示。
WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡实物拍摄图：
WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡参数规格：
每个线对组中的薄片厚度为T，相邻片间隙宽度(金属隔片厚度)也为 T。各种等级线对卡的薄片厚度 T 及其对应的线对数见表 A.1。
每个线对组中的薄片长度L 为10mm，宽度W为8mm。
| 等级 | 第1组 | 第2组 | 第3组 | 第4组 | 第5组 | |||||
| 片厚T mm | 线对数 Lp/mm | 片厚T mm | 线对数 Lp/mm | 片厚T mm | 线对数 Lp/mm | 片厚T mm | 线对数 Lp/mm | 片厚T mm | 线对数 Lp/mm | |
| Ⅲ级 | 0.100 | 5.0 | 0.125 | 4.0 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 |
| Ⅱ级 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 |
| Ⅰ级 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 | 0.650 | 0.8 | 1.000 | 0.5 |
每个线对组中的薄片长度L 为10mm，宽度W为8mm。
外型尺寸长(L)，宽(W)，高(H)，单位：mm。
| 图片 |  |  |  |
| 等级 | Ⅰ级 | Ⅱ级 | Ⅲ级 |
| 线对 | 0.5至2.0LP/m | 1.0至3.3LP/m | 2.0至5.0LP/m |
| 尺寸（mm） | 45Lx26Wx20H | 33Lx26Wx20H | 30Lx26Wx20H |
圆孔卡或细丝卡,按孔径或丝径大小分为两种:
1)Ⅱ级圆孔卡或Ⅱ级细丝卡
2)工级圆孔卡或I级细丝卡;
WEK35391-2017圆盘卡
圆孔卡是在均质圆柱形基体上,加工一系列直径不同的圆形孔,圆孔按行有序排列,其结构如图3所示。细丝卡是在均匀低密度圆柱形基体上,排列一系列直径不同的细丝,细丝按行有序排列。圆盘卡是由均质的刚性材料制作的圆柱体,其结构如下图所示。圆盘卡材质应与被检测物体的射线吸收特性相同或相近,推荐使用钢或硅(或由供需双方商定的材料制作)。
GBT35386-2017空气间隙试块
空气间隙试块是在均质刚性基体材料[一般为钢(例如 Q235)、铝(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直径和高度的空气间隙，使得切片厚度内的局部平均密度发生变化，从而测试密度分辨力。其基本结构如图 A.5所示。
基体是由两个高密度圆柱体组成，高度在15mm以上。凹槽直径φ不小于20mm圆柱体直径可根据实际情况规定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根据切片厚度 .和实际情况确定。
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