2018-05-15 16:29:593798
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集成型测量荧光寿命的测试系统，测量范围从亚纳秒到毫秒量级，该系统操作简单，只需要放入样品，进入测量软件界面输入测试条件，极短时间内可获得高精度的荧光寿命，光致发光光谱，整个测量过程只需要60s即可完成。
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