CCD光电性能测试系统

◆ 产品名称：CCD光电性能测试系统

◆ 产品应用：主要用于线、面阵CCD光电相应性能测试。

◆ 产品介绍：本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像

器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价

的标准化和规范化起到积极推进作用。

◆ 产品主要测试功能：

1) 饱和输出电压（SV）

2) 饱和曝光量（SE）；(A光源)

3) 光辐射响应度（灯光照明下的R）；辐射照度响应度（A光源）

4) 相对光谱响应度RS；

5) 响应度均匀性（PRNU）；

6) 响应度非线性度；

7) 电荷转移效率（CTE）；

8) 光谱和白光传递函数（MTF）；

9) 暗信号（DS）；

10) 暗噪声（VNOISE）；

11) 噪声等效曝光量（NEE）；

12) 动态范围（DR）；

13) 非线性度（NL）；

14) 固态图片噪声（FPN）。

◆ 产品主要技术指标：

★ 工作光谱波段：380nm~1100nm；

★ 可测量CCD尺寸: 100mm×100mm；

★ 光源均匀性：优于1%；

★ 光源稳定性：优于0.5%/h；

★ 光谱分辨率：＜2nm；

★ A/D量化等级：14bit；

★ 动态范围：80dB；

★ 不确定度：5%；

★ 重复性误差：2%。