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详细介绍
强磁场低温近场扫描显微系统
型号：attoSNOM-Ⅲ
厂家：德国Attocube Systems AG公司技术指标：
1. 配有两个高精度定位的探针台：
分别用于SNOM探针和额外光纤定位与移动；
2.工作温度：1.8K-300K；
3. 磁场强度：7Tesla；
4.液氦消耗速率：0.25 l/hr；
5.温度稳定性：<0.05 K；
6.成像模式：形貌成像、反射光信号成像、投射光信号成像；
7.反馈调制方式：振幅调制、相位调制、频率调制等；
8.样品粗选区范围：5×5×5mm3；
9.粗位移步长：300K时为0.05-3μm；4K时为10-500nm
10.扫描范围：300K时为40×40μm2；4K时为30×30μm2
11.典型分辨率：<200nm（取决于aperture的配置）
12. Z方向噪音：<50 pm/√Hz；Z方向分辨率：0.12 pm（扫描模式）
13.将来可进行功能拓展，选件包括：共聚焦显微镜、原子力显微镜
14.将来可进行工作温度的拓展：300mK或更低
主要功能及应用范围：
AttoSNOM-Ⅲ系统是上一台能在低温与强磁场环境中，进行近场光学研究的设备，该系统适用于对各种材料的近场光学性质测量，其研究范围包括了物理、材料、化学、生物等科学。所能测量的材料有金属、半导体、磁性材料、有机材料等等，材料的形式可以是薄膜、块材、单晶和纳米材料等等。
AttoSNOM-Ⅲ系统是上一台能在低温与强磁场环境中，进行近场光学研究的设备，该系统适用于对各种材料的近场光学性质测量，其研究范围包括了物理、材料、化学、生物等科学。所能测量的材料有金属、半导体、磁性材料、有机材料等等，材料的形式可以是薄膜、块材、单晶和纳米材料等等。
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