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反射膜厚仪F40系列 测厚仪

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更新时间:2024-03-01 09:33:28浏览次数:546

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产品简介

反射膜厚仪/测厚仪/F40系列将您的显微镜变成薄膜测量工具FilmetricsF40系列主要用于测试各种透明半透明的膜厚,可测量小到1微米的光斑

详细介绍

反射膜厚仪/测厚仪/F40系列 

将您的显微镜变成薄膜测量工具

Filmetrics F40系列主要用于测试各种透明半透明的膜厚,可测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地固定在 c 型转接器上,这样的转接器是显微镜行业标准配件有三种不同波长选择(波长范围从可见光400nm至近红外1700nm);测量的薄膜厚度范围从20nm 到 20um,精度为 0.1nm 。可提供最小10um光点(50倍放大倍数)来测量微小样品。

F40 配备的集成彩色摄像机,能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样,F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。


F40产品特性:
1  操作简单、使用方便;
2  测量快速、准确;
3  体积小、重量轻;
4  价格便宜。
 
F40产品应用:
1  半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物;
2  LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
3  光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片.

 

额外的好处:

· 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

· 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)

· 网上的 “手把手" 支持 (需要连接互联网)

· 硬件升级计划

 

型号

厚度范围*

波长范围

F40

20nm-40µm

400-850nm

F40-EXR

20nm-120µm

400-1700nm

F40-NIR

40nm-120µm

950-1700nm

F40-UV

4nm-40µm

190-1100nm

F40-UVX

4nm-120µm

190-1700nm

*取决于薄膜种类


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