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XC65D(-LS)-数字交叉式扫描头

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更新时间:2021-08-12 12:43:18浏览次数:100

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产品简介

XC65D(-LS)数字交叉式扫描头特征检测及其他应用的理想扫描头交叉式XC65D激光扫描头只需一次扫描即可采集产品特征、边缘、腔体、肋状物和自由形状的三维细节数据

详细介绍

XC65D(-LS)数字交叉式扫描头
特征检测及其他应用的理想扫描头

交叉式XC65D激光扫描头只需一次扫描即可采集产品特征、边缘、腔体、肋状物和自由形状的三维细节数据。不断提升的数字化扫描频率以及智能化的激光强度自调节能力使得其可以在无须用户干预的情况下扫描各种表面。 

主要优点材料

  • 单次扫描即可获取复杂表面和几何特征的完整三维信息
  • 真实三维数字化技术确保高精度特征测量
  • 更快的特征检测,无需重新定位扫描头
  • 基于宏的简便又快捷的工件编程能力大大加快测量准备工作
  • 适合于表面扫描和特征扫描,同时XC65D(-LS)也可以用于单线扫描模式
  • 进行无缝改装升级

主要特性

  • 的多线激光技术,可以同时从三个方向扫描工件
  • 高速数字化技术大大提高了扫描频率
  • *的激光强度点对点自调节能力
  • 更宽的激光条纹,全新的CMOS相机技术
  • 的用于柔性或易碎零件测量的非接触式激光扫描头
  • XC65D-LS 长工作距离扫描头可在更大范围内调节工作距离,更好地扫描深腔和深槽

应用

  • 车身零部件、钣金件
  • 铸件检测(发动机铸件等)
  • 塑料成型和吹塑产品(复合燃油箱、车身塑料件等)
  • 复杂表面检测,例如带有深孔的发动机缸体
  • 二维和复杂的三维特征检测
  • 车门/挡泥板之间的间隙和突起
 

技术指标

  XC65D XC65D-LS
扫描速度 交叉扫描模式:3 x 25,000 pts/s
线扫描模式:1 x 75,000pts/s
75 线/s
条纹宽度 3x65mm (3x2.56”) 3x65mm (3x2.56”)
测量景深 3x65mm (3x2.56”) 3x65mm (3x2.56”)
工作距离(约) 75mm (2.95”) 170mm (6.69”)
测量精度* 15 μm (0.0006”) 20μm (0.0008”)
外形尺寸 155x86x142mm
(6.1x3.4x5.6”)
155x86x142mm
(6.1x3.4x5.6”)
重量(约) 440g (0.97lbs) 480g (1.06lbs)
安装基座 Renishaw PH10M(Q)测头座,多股线
激光等级 2级

1 根据Metris验收程序,1σ 精度同样取决于CMM的精度
2 所有技术指标如有更改,恕不另行通知

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