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详细介绍
一、仪器介绍
XPH-500型偏光熔点仪测定仪是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校常用的专业实验仪器。本系列偏光熔点仪可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，如：化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验。
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二、仪器特点
偏光熔点仪测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、*的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数
1.目镜
| 类 型 | 放大倍数 | 视场（mm） |
| 平场目镜 | 10X | φ22 |
| 十字目镜 | 10X（选） | φ20 |
2.物镜
| 类 型 | 放大倍数 | 数值孔径（NA） | 工作距离（mm） | 盖玻片厚度（mm） |
| 无应力平场 消色差物镜 | 4X | 0.1 | 7.18 | - |
| 10X | 0.25 | 4.70 | 0.17 | |
| 40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 | |
| 60X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍数：40X 100X 400X 600X
系统放大倍数：40X-2600X
系统放大倍数：40X-2600X
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调
7.补偿器：λ片（Ф18mm，一级红，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级）
8.调焦系统：带限位和调节松紧的同轴粗微动，微动格值0.002mm
9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调）
10.防霉：*的防霉系统
四、系统组成
电脑型偏光熔点仪测定仪（XPH-500P）：1、偏光显微镜2、适配镜3、彩色摄像器 4、A/D图像采集卡 5、高精度热台
数码相机型偏光熔点仪测定仪（XPH-500D）：
1、偏光显微镜 2、适配镜 3、数码相机 4、高精度热台
数码相机型偏光熔点仪测定仪（XPH-500D）：
1、偏光显微镜 2、适配镜 3、数码相机 4、高精度热台
五、选购件
1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件 3.物镜：20X
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