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仪电物光WKL-702 颗粒图像分析仪上海仪电物理光学 激光粒度仪

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更新时间:2023-12-11 09:02:05浏览次数:322

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产品简介

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成

详细介绍

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理,具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。
1、图像多种处理方法:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类,以线性或非线性统计方式绘出分布图。
仪器型号 WKL-702
测量范围 0.1~3000(微米)
总放大倍数 8000倍
分辨率 0.1微米/像素
重复性 误差≤±1%
自动分割速度 ≤1秒
数字摄像机(CCD) 500万像素
数据储存 电脑另配
通信接口 USB
操作系统 Windows 98/XP/7/8/10系统均可
电源 AC220V ±10% 200W
仪器尺寸 270mmX410mmX440mm
仪器净重 15kg

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