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上海仪电分析-双光束紫外可见分光光度计-760CRT

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更新时间:2021-08-24 09:24:51浏览次数:160

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产品简介

主要特点:●采用全息闪耀光栅,双光束C-T式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好

详细介绍

主要特点:
● 采用全息闪耀光栅,双光束 C - T 式光路结构,高分辨 率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。
● 微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出含 有光谱图、测试数据及操作的测试报告。 
● 光源自动转换(可在294nm ~ 364nm间任意设定) 
● 功能*的光谱处理能力。 
● 采用长寿命进口光电倍增管,进口氘灯和长寿命钨灯。

上海仪电分析760CRT 双光束紫外可见分光光度计是软件基于Windows 7平台的自动记录分光光度计,界面友好、美观,操作简单,通过打印机可打印出图文合一的分析报告,并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理,可将图谱贴至Word中发表。仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能,适合用于医药、药学、生物化学、环境保护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的需要。
 
测光方式: 双光束
单色器: Czerny - Turner
焦距: 200mm
光栅: 全息闪耀,1600线/mm
光束分光系统: 斩波器
检测器: 进口光电倍增管R928
光谱带宽: 0.08 ~ 5nm,间隔0.01nm连续可调
波长设定: 电脑输入
波长范围: 190nm ~ 900nm
波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置)
波长重复性: ≤ 0.2nm
分辨率: 优于 0.15nm
光度准确度: ±0.3% (T) (以NBS930D测定)
光度重复性: ≤ 0.2% (T)
杂散光: ≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定)
基线平直度: ≤±0.002 (A)
噪声: ±0.3% (T) (处) ±0.1% (T) (0%处)
扫描速度: 快、中、慢
基线漂移: ≤±0.004 A/30min
电源电压: AC220V±22V 50Hz±1Hz
功率: 300 W

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