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X荧光测厚仪

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更新时间:2021-08-22 11:37:54浏览次数:229

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产品简介

X-Strata920表面镀层测厚仪是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析

详细介绍

X-Strata920表面镀层测厚仪

是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

功能特性:

  • 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
  • 可完成至多4层镀层(另加底材)和25个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线
  • 的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素
  • 测厚行业35年知识和经验的积淀

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