轮廓测量仪MarSurf XC 20

轮廓测量的基准
MarSurf XC 20 被*为轮廓评估的产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过的技术发展为质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。

• 可以显示用户提示
• 交互控制元素支持评估和自动例行程序
• 使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估
• 剖面图像，可评估各剖面的不同参数
• 可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
• 支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
• PCV 200 驱动装置采用的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换
• 测头系统，提高测量站灵活性
• 手动可变扫描力，同样提高灵活性
• 使用直线和圆弧合成标称轮廓
• 方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差