两槽式冷热冲击箱TSD 返回列表页

两槽式冷热冲击箱TSD

    本系列环境实验箱可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件或相关行业的实验部门提供一个模拟环境，为测试数据的准确性和*性(可重复)提供*条件。该产品具有简单的操作性能和可靠的设备性能，便捷操作的计测装置，结构一体化程度高，科学的空气流通设计，使室内温湿度均匀，避免任何死角；完备的保护装置，避免了任何可能发生的隐患，保证设备的长期可靠性

两箱式高低温冲击试验箱参照标准

本试验箱符合GB/T2423.1 低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法。GJB150.5-86温度冲击试验法 、GJB360A-96电子及电气元件试验方法。

GJB 150.3高温试验；GJB 150.4 低温试验；

GB10588-2006 高温试验箱技术条件；

GB10589-2006 低温试验箱技术条件；

GB/T10592高低温试验箱技术条件；

QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14标准中所要求的试验

两槽式冷热冲击箱TSD

两箱式高低温冲击试验箱控制系统

1.设置方式：触摸，点击

2.显示方式：彩色LCD背光触摸屏中文显示

3.设定、显示分辨率:温度（0.1℃）；时间（1min）

4.图形显示：完整显示设定程序曲线。

5.设置参数保存时间:充满电后,数据可保存5年。

6.程序数:1～499（Z大499个程序）。