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显微光谱测量系统-MicroTEQ-B1

显微光谱测量系统-MicroTEQ-B1

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更新时间：2024-05-30 13:26:53浏览次数：368次

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产地 国产 产品新旧 全新
MicroTEQ-B1显微光谱测量系统，具备透反射测量功能。系统选用了共焦收光方式，形成了较小的收光面；除此之外，视野+成像+收光+物面的共轭，可使观察和测试同时进行。系统中的显微反射测量模块可适配市面上大部分主流显微镜，满足客户对显微镜的不同需求。

详情介绍

MicroTEQ-B1显微光谱测量系统，具备透反射测量功能。系统选用了共焦收光方式，形成了较小的收光面；除此之外，视野+成像+收光+物面的共轭，可使观察和测试同时进行。系统中的显微反射测量模块可适配市面上大部分主流显微镜，满足客户对显微镜的不同需求。


成像照片


下图为使用10X物镜对50um小孔进行透射率测量时的聚焦和实测画面。

实测图谱

系统参数

型号

MicroTEQ-B1

光谱仪

可根据情况自行选配

显微反射测量模块

兼容大部分主流显微镜

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明zui大支持相机尺寸

1/2"

测量光斑

  1. 10 um @ 10x 物镜 @ 100 um 光纤

  1. 50 um @ 10x 物镜 @ 500 um 光纤




















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