快速温度老化测试箱 返回列表页

快速温度老化测试箱是模拟气温变化试验的设备，现实环境中的气温变化分日变化和年变化。日变化，高气温是午后2时左右，低气温是日出前后。年变化，北半球陆地上7月份热1月冷，海洋上8月份热2月份冷；南半球与北半球相反。还有一种就是人工变化，就是因为人为导致一些设备在搬移或者摆放在不同的环境中面临不同的气温变化，为了能提前预知产品的耐变性，所以广大需求者需要购买快速温变试验箱回去做评估或者预测试验。

快速温度老化测试箱适用于通讯、光电、航空航天等产品试验用，还适合于信息电子仪器仪表、电工、安防产品、材料、电子产品、各种电子电器元气件在温度快速转变的情况下检验其的各项性能指标是否有变化或者影响。常做的温变率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min（可选择线性或非线性变化）。

符合标准：

GJB/150.3A-2009  装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验。

GJB/150.4A-2009  装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验。

GB/T 5170.1-2008  电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

GB/T 2423.3-2006  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验。

GB/T 2423.4-2008  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h + 12h循环）。

GJB/150.9A-2009  装备实验室环境试验方法第9部分：湿热试验。

GB/T 2423.1-2008  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温。

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温。

GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验N：温度变化。

GB/T 10586 -2006  湿热试验箱技术条件；GB/T 10592 -2008  高低温试验箱技术条件。