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X射线荧光光谱法(XRF)-EDX9000B矿石矿产分析仪测定钼精矿中多种元素

发布时间:2022-5-7

X射线荧光光谱法(XRF)-EDX9000B‍矿石矿产分析仪测定钼精矿中多种元素

EDX9000B-x荧光光谱矿产分析仪.jpg

通过对比压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件.其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线,因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略.同时利用FP算法去除元素之间谱线干扰,背景和脉冲高度选择.使用经验系数法校正基体效应,可准确测定钼精矿中的钼,硫,铁,铜,铅,锌等11种元素.在熔融片法中主要测试了元素谱线的选择及其相互之间的干扰,经理论α系数校正后,可准确测定不同钼矿中的多种元素,其适用范围更广。两种样品制备方法各有优势,压片法更快捷,使用成本更低,但对基体效应的去除没有熔片法好。熔片法制样时间更久,使用和维护成本更高。客户可以基于自身条件灵活选择合适的样品制备方法


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