什么是X射线荧光（XRF）光谱仪 X-ray Fluorescence Analysis

１８９５ 年德国巴伐利亚州维尔茨堡大学的伦琴教授（W ．C ．R迸ntgen）在实验室里发现了一种新的辐射 ，这是一种能透过人的骨组织 ，又能使照相底片感光 ，穿透力的射线。 由于不清楚这种射线的本质 ，于是用 “X" 这个数学上表示未知数的符号来命名它 ，这就是 X 射线 ，也被称为伦琴射线

当试样受到x射线高能粒子束,紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态

，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线

X 射线荧光光谱分析（X-ray fluorescence analysis ，XRF spectromter）是一种非破坏性的仪器分析方法。 它是由 X 射线管发出的一次 X 射线激发样品 ，使样品所含元素辐射特征荧光 X 射线 ，也就是二次 X 射线 ，根据谱线的波长和强度对被测样品中元素进行定性和定量分析。 X 射线荧光光谱法也被称为 X 射线二次发射光谱法。

常用的化学元素分析方法有湿法化学分析和仪器分析。 仪器分析通常包括原子发射光谱法、原子吸收光谱法、质谱法、X 射线荧光光谱法等。 X 射线荧光光谱分析是目前材料化学元素分析方法中发展 、应用领域、的分析方法之一 ，并在常规生产中很大程度上取代了传统的湿法化学分析. 下图是X射线荧光光谱仪产生的一张样品谱图。