超强专家组阵容，邀您共探粒度表征全链攻坚术 | 全球直播

时间：2025-5-7

随着各行业对高精度、高效率检测需求的攀升，先进的颗粒表征技术已成为科研与工业应用的核心技术之一。在纳米药物研发中，纳米颗粒的细微差别可左右药物的疗效与安全性；于电池材料优化而言，颗粒的粒径分布及表面特性直接关乎电池的充放电性能和使用时长；在半导体晶圆制造过程中，精准掌握浆料中颗粒的分布、稳定性及微量杂质，则能为晶圆表面实现全局性平坦保驾护航。

尽管粒度表征技术发展迅速，但众多企业和研究机构在实际运用时仍面临诸多困扰。您是否曾因测量精度不够而忧心？是否曾被复杂繁琐的数据解析过程耗去大量时间精力，却难获准确结果？是否曾因仪器操作步骤繁琐，导致工作效率和实验进度受影响？为帮助科研人员和企业解决这些难题，我们邀请到 HORIBA 资深技术专家团队举办专场在线讲座，深入解析颗粒表征的新技术、应用案例及解决方案。

扫下方二维码报名参加讲座，5 月 8 日凌晨 2 点，与 HORIBA 超豪华专家组一起探索粒度表征的无限可能，解锁行业新机遇！

课程信息

课程名称

揭秘 HORIBA 粒度表征技术全攻略

讲座时间

5 月 8 日凌晨 2:00 (北京时间)

推荐参加人员

• 材料科学、制药、化工、环境等领域的科研先锋

• 质量控制与检测实验室技术精英

• 高校及科研院所相关研究方向师生

• 对粒度表征技术感兴趣的研究者

主讲人


Carl Lundstedt HORIBA 应用工程师	Brian Sears HORIBA 产品经理

Mike Pohl 博士 HORIBA 副总裁	Michael Feany HORIBA 应用工程师

Holly Clark HORIBA 应用工程师	Amy Hou HORIBA 应用开发中心负责人