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PCT老化试验箱 非饱和

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  • PCT老化试验箱  非饱和

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号 APCT系列
  • 品牌
  • 厂商性质 其他
  • 所在地 东莞市

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更新时间:2023-02-21 09:04:32浏览次数:212

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产品简介

PCT高压加速老化试验机广泛用于IC、半导体、PCB线路板、光伏组件等行业,通过环境应力(温湿度、压力)与工作应力加速老化试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引......

详细介绍

| 产品介绍

PCT老化试验箱 非饱和

APCT系列

突出特点:

不锈钢圆型内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计;采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗;蒸发器采用水浸查漏方法,查漏,确保设备稳定运行;采用触摸屏控制器,多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示;采用触摸屏控制器;蒸发器采用水浸查漏方法,查漏,确保设备稳定运行;搭载进口控制系统微电脑 P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度,带有水位不足时提供警示功。

合作案例

技术参数

型号APCT -
25A30A40B50B25C30C
控制器中英文显示,具有USB,R-232C接口,RS-485通信功能,数据曲线下载
    控制精度:温度:0.1℃,湿度:0.1%RH,压力:0.1kg/cm²
性能温度范围105℃~132℃105℃~142.9℃105℃~155℃
湿度范围65%RH~99%RH(可调)
温湿波动度非饱和控制:±0.5℃/±2.5%RH;湿润饱和控制:±0.5℃/99%RH
温湿均匀度±0.5℃/±5.0%RH
压力范围表压力+0.2~2.0kg/cm²表压力+0.2~3.0kg/cm²表压力+0.2~3.5kg/cm²
加压时间大约45分钟大约50分钟大约55分钟
偏压端子标配8条(8~55条可选),交直流125V   1A
气源增压有外接气源有外接气源有外接气源
循环方式风叶强制对流循环
标称内容积17L31L69L117L17L31L
内箱尺寸
    (直径x深)cm
Φ25xD35Φ30xD45Φ40xD55Φ50xD60Φ25xD35Φ30xD45
外箱尺寸
    (宽x深x高)cm
566676865666
105125135145105125
6510511513565105
材质内箱SUS316#不锈钢
外箱冷轧钢板静电喷涂
保温玻璃棉
密封进口硅胶密封条
试样架试样架隔板(标配2套),可定制专用试样架
控制面板控制器、电源开关键、工序显示灯、报警灯、机械压力表、手动紧急泄压阀、USB接口、R-485接口
压力容器加热器、加湿器、温度传感器、试样信号端子、对流风扇、对流风扇电动机、防过热/干烧检测端子
供水方式自动供水
安全保护

试验时全程检测超温超压保护,

阶段仪表内部超高温保护;第二阶段仪表内部加湿器缺水保护,高压力保护,水箱缺水报警断电,

第二阶段超高压保护;第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护,自动泄压等



注:以上技术参数为室温+20℃或循环水温+25℃、空载(无试样)时下所测得。

试验标准及方法

MS IEC 60068-2-66-2008  环境试验 第2-66部分-试验方法 试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽)

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