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LeicaEMTIC3X电镜样品制备

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更新时间:2022-10-29 09:29:12浏览次数:170

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产品简介

三离子束切割仪

详细介绍

可复制的结果

Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

使用 Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。

带来的便利!

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