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详细介绍
真理光学技术团队具有超过二十年粒度表征及应用开发的经验，曾研发出一台商用激光粒度分析仪。LT3600系列和LT2200系列是真理光学基于多年的科研成果并融合多项技术开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，为激光粒度分析行业树立了新。LT3600系列和LT2200系列粒度仪被广泛用于磨料，制药，化工，电池材料，地质，水文等行业的颗粒粒度表征分析。
针对电池材料行业用户的电池材料粒度粒形检测需求，真理光学开发的新一代LT系列激光粒度仪加持了如下技术研究成果：
（1）发现爱里斑的反常变化（ACAD）规律及其对粒度测量的影响，解决了ACAD现象对光能数据反演的干扰。
（2）的偏振空间滤波技术
（3）斜置梯形窗口技术。
（4）统一的散射光能反演算法，免除了用户必须选择反演模式，而不同模式有不同结果的困扰。
（5）分散系统双电机驱动及液位连续监控。
为电池材料粒度粒形测试提供可靠保证和稳定数据支撑。
| 项目 | 指标 | |
| 测量原理 | 激光衍射 | |
| 光学模型 | 全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选 | |
| 粒径范围 | 0.02μm-2200μm，无需更换透镜，不依赖标样校准 | |
| 检测系统 | 包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列及高灵敏度后向散射检测单元 | |
| 测量池 光源 | 平行斜置 集成恒温系统的638nm，20mW固体激光器 | |
| 空间滤波方式 | 非针孔式偏振滤波技术 | |
| 光学对中系统 | 智能全自动 | |
| 测量时间 | 典型值小于10秒 | |
| 测量速度 | 可达20000次/秒 | |
| 准确度 | Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样） | |
| 重复性 | Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样） | |
| 激光安全 | 1类激光产品 | |
| 计算机配置 | Intel i5处理器，4GB内存，250GB硬盘，鼠标，键盘和宽屏显示器 | |
| 计算机接口 | USB2.0或以上 | |
| 软件运行平台 | Windows7或以上专业版 | |
| 操作环境温度 | 5℃-40℃ | |
| 操作环境湿度 | 10%-85%相对湿度（无结凝） | |
| 电源要求 | 交流220V，50Hz-60Hz，标准接地 | |
| 光学系统重量 | 31kg | |
| 光学系统尺寸 | 670mm x 275mm x 320mm |
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